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大野仁之さん、由井薗充宏さんが「The 2021 IEEE International Meeting for Future of Electron Device, Kansai（IMFEDK ）」で学会発表
大野仁之さん、由井薗充宏さんが「The 2021 IEEE International Meeting for Future of Electron Device, Kansai（IMFEDK ）」で学会発表を行いました。
発表者：大野仁之さん（井田研究室、大学院電気電子工学専攻博士前期課程1年）
発表タイトル：Developing Ultralow Trun-on Voltage Diode by Steep Slope “PN-Body Tied SOI-FET”
発表年月日：2021/11/18
発表者：由井薗充宏さん（井田研究室、大学院電気電子工学専攻博士前期課程2年）
発表タイトル：RF Evaluation of Steep Subthreshold Slope “PN-body Tied SOI-FET”
発表年月日：2021/11/18
